誤碼率測(cè)試儀BA1500 主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

• 支持*高1.6Gb/s 數(shù)據(jù)碼型發(fā)生/ 誤碼檢測(cè)，快速、**地對(duì)數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試
• PRBS或者8Mb長(zhǎng)度用戶自定義碼型可以靈活的調(diào)試和驗(yàn)證任何數(shù)字信號(hào)
• 內(nèi)建極**的時(shí)鐘源
• 可調(diào)節(jié)幅度、偏置、邏輯閾值和端接等參數(shù)，為接收機(jī)測(cè)試提供靈活多樣的信號(hào)激勵(lì)
• 差分或單端IO 確保滿足所有通信總線標(biāo)準(zhǔn)
• BitAlyzer® 誤碼分析快速理解被測(cè)系統(tǒng)的誤碼率極限、評(píng)估確定性和隨機(jī)性誤碼，詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，進(jìn)行突發(fā)(Burst)分析以及無(wú)誤碼時(shí)間間隔分析等
• 自動(dòng)化眼圖測(cè)量和快速眼圖模板測(cè)試提供了對(duì)被測(cè)系統(tǒng)快速的信號(hào)完整性分析
• ANSI 標(biāo)準(zhǔn)的抖動(dòng)測(cè)量 (RJ、DJ 和TJ)，能夠測(cè)量BER 在10^-12時(shí)的TJ 和RJ
• 支持Q 因子分析，揭示眼高和BER 之間的關(guān)系
• BER 輪廓揭示眼圖和BER 的關(guān)系，可以將輪廓導(dǎo)出為眼圖模板
• 內(nèi)建的前向誤碼糾錯(cuò) (Forward Error Correction) 可以仿真通信系統(tǒng)FEC 設(shè)計(jì)的性能
• 誤碼定位及分析 (Error Maping) 揭示信號(hào)出現(xiàn)誤碼的位置和原因

誤碼率測(cè)試儀BA1500主要應(yīng)用

• 半導(dǎo)體性能參數(shù)驗(yàn)證
• 進(jìn)行眼圖模板、BER 和抖動(dòng)測(cè)試
• 衛(wèi)星通信系統(tǒng)功能測(cè)試
• 無(wú)線通信系統(tǒng)功能測(cè)試
• 光線系統(tǒng)或模塊測(cè)試
• 前向誤碼糾錯(cuò)(Forward Error Correction)評(píng)估

誤碼率測(cè)試儀BA1500超群的性能、快速深入分析被測(cè)系統(tǒng)

BitAlyzer® 系列誤碼率測(cè)試儀是當(dāng)前工業(yè)界應(yīng)對(duì)信號(hào)完整性挑戰(zhàn)和BER問(wèn)題*佳的解決方案，面向用戶提供對(duì)復(fù)雜電子和通信系統(tǒng)驗(yàn)證、參數(shù)測(cè)試以及調(diào)試和測(cè)試。

整個(gè)產(chǎn)品系列擁有超乎想象的數(shù)據(jù)發(fā)生和分析功能，而且操作非常的直觀、簡(jiǎn)單，幫助用戶加快日復(fù)一日的工作任務(wù)。集合了*完善的分析功能與便捷的操作與一體，*大化的幫助用戶得到被測(cè)系統(tǒng)的信息。

誤碼率測(cè)試儀BA1500簡(jiǎn)單的用戶界面

上圖是BA1500 和BA1600 界面的起始頁(yè)。在右邊的一列按鈕引導(dǎo)用戶選擇不同的功能模塊，觀測(cè)不同的視圖，進(jìn)行詳細(xì)的配置等。支持觸摸屏操作。

 

BA1500 和BA1600 有著在所有誤碼儀中*先進(jìn)的用戶界面系統(tǒng)。界面上直觀的分布著儀器的控制按鈕和狀態(tài)參數(shù)。通過(guò)起始頁(yè)開(kāi)始，用戶能夠快速的學(xué)習(xí)如何使用儀器。非常方便的幫助系統(tǒng)，可以連接到Internet，支持e-mail 和網(wǎng)絡(luò)打印。

用戶可以通過(guò)開(kāi)始設(shè)置 (Getting Started) 向?qū)?，一步一步的完成?duì)儀器的學(xué)習(xí)，掌握*新的分析功能。不出一個(gè)小時(shí)，就能夠完成儀器的基本設(shè)置，進(jìn)行誤碼率測(cè)量并且可以研究誤碼的統(tǒng)計(jì)特性了。

誤碼率測(cè)試儀BA1500碼型發(fā)生器

簡(jiǎn)單直觀的界面。用戶可以非常輕松的完成時(shí)鐘源、數(shù)據(jù)靈活的配置.

 

BA1500 和BA1600 包含內(nèi)部碼型發(fā)生器，能夠產(chǎn)生預(yù)設(shè)的PRBS 碼流，或者用戶自定義、長(zhǎng)度不超過(guò)8Mb 的碼型。數(shù)據(jù)發(fā)生器即可以受控于內(nèi)部時(shí)鐘，也可以通過(guò)外部時(shí)鐘輸入產(chǎn)生數(shù)據(jù)。精度達(dá)到0.1% 的延遲線用于調(diào)整時(shí)鐘和輸出數(shù)據(jù)之間的時(shí)延。用戶自定義數(shù)據(jù)可以在線編輯或從外部文件讀取。

廠家預(yù)設(shè)值包含了常用的邏輯閾值電平。另外，數(shù)據(jù)和時(shí)鐘的擺幅、偏置可以單獨(dú)調(diào)節(jié)，可以輸出差分或者單端的信號(hào)。

誤碼率測(cè)試儀BA1500碼型檢測(cè)器

支持差分和單端輸入，閾值電平和電壓可以自由調(diào)節(jié)。預(yù)設(shè)了常用的邏輯種類(lèi)。

 

通過(guò)對(duì)輸入數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)一位一位的比較來(lái)確定誤碼。接收序列中的誤碼可以通過(guò)內(nèi)部的處理器實(shí)時(shí)的找到，并且存儲(chǔ)在內(nèi)部的硬盤(pán)上有待后續(xù)分析。接收機(jī)將自動(dòng)同步正?；蛘叻聪虻腜RBS 碼型，或者是用戶自定的碼型。

碼型檢測(cè)器支持差分或者單端信號(hào)的輸入，可以完全控制閾值電平和端接的設(shè)置。儀器自身預(yù)設(shè)了一些常用的邏輯種類(lèi)的設(shè)置，自動(dòng)設(shè)置 (Auto Scale) 功能能在2 秒鐘之內(nèi)自動(dòng)找到眼圖的中心。

誤碼率測(cè)試儀BA1500用戶碼型編輯器

上圖所示的捕獲到的碼型，通過(guò)手動(dòng)修改，再?gòu)拇a型發(fā)生器向外發(fā)出。

 

用戶可以使用內(nèi)建的碼型編輯器為碼型發(fā)生器和檢測(cè)器內(nèi)存提供或者修改碼型?？梢詫⒉东@到的數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯，從而創(chuàng)建參考碼型。碼型編輯器支持PRBS 關(guān)鍵字、重復(fù)循環(huán)和可變的賦值?？梢允褂檬M(jìn)制、十進(jìn)制或者二進(jìn)制進(jìn)行編輯。

碼型文件存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)硬盤(pán)內(nèi)，或者也可以通過(guò)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行文件存取。可以實(shí)現(xiàn)多臺(tái)BA1500 和BA1600 之間的數(shù)據(jù)共享。

誤碼率測(cè)試儀BA1500誤碼記錄(Error Logging)

BER 日志記錄的界面非常的直觀。用戶設(shè)定BER 閾值并且定義記錄何種數(shù)據(jù)。記錄的時(shí)間間隔和誤碼發(fā)生的時(shí)間間隔完全一致。

 

對(duì)于通常的誤碼率檢測(cè)應(yīng)用而言，需要記錄誤碼測(cè)量和其他重要測(cè)試結(jié)果。BA1500 和BA1600 內(nèi)建的日志記錄功能，可以記錄超過(guò)要求的BER情況時(shí)的參數(shù)，包括同步丟失或者設(shè)置的改變等，都會(huì)記錄下來(lái)。

記錄日志文件能夠打印或者歸檔，可以驗(yàn)證系統(tǒng)性能或者快速瀏覽誤碼是否出現(xiàn)。

誤碼率測(cè)試儀BA1500基本BER 統(tǒng)計(jì)

單獨(dú)的誤碼率和比特計(jì)數(shù)顯示在基本的BER界面中。這種簡(jiǎn)單的分離能使的調(diào)試的注意力放在正確的區(qū)域。

 

強(qiáng)大的誤碼定位分析 (Error Location Analysis) **技術(shù)能找出BER和碼型中比特位的確切關(guān)系。BitAlyzer能夠揭示出誤碼和具體碼型中比特的關(guān)系，而傳統(tǒng)的誤碼儀僅能完成BER的測(cè)量。

BitAlyzer同時(shí)檢測(cè)單獨(dú)比特和突發(fā)模式 (Burst) 誤碼統(tǒng)計(jì)列表， 使得用戶準(zhǔn)確的了解究竟在那個(gè)比特位或突發(fā)位上發(fā)生了多少次錯(cuò)誤。所有的誤碼定位分析 (Error Location Analysis) 數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)的分析和記錄在硬盤(pán)上以供后續(xù)分析和歸檔。分析引擎允許設(shè)定文件名稱(chēng)、誤碼記錄模式等參數(shù)。

誤碼率測(cè)試儀BA1500BER 帶狀圖

可以在帶狀圖中上分析誤碼率趨勢(shì)圖。溫度循環(huán)變化和改變測(cè)試條件等對(duì)通信系統(tǒng)的影響能非常明顯的觀察出來(lái)。

 

研究誤碼率的變化趨勢(shì)是非常重要的。帶狀圖（Strip Chart）通常用于監(jiān)視測(cè)量結(jié)果隨時(shí)間的變化。BitAlyzer內(nèi)建的柱狀圖視圖允許用戶觀測(cè)比特、突發(fā)和總誤碼隨時(shí)間的變化。時(shí)間軸刷新的速度根據(jù)實(shí)際的數(shù)據(jù)率和比特位個(gè)數(shù)（包含誤碼）而調(diào)整。另外，可以設(shè)置顯示的zoom 級(jí)別。

低頻的重復(fù)發(fā)生的誤碼能在這個(gè)視圖中非常明顯的分辨出來(lái)。例如，每隔6 秒鐘出現(xiàn)的一組誤碼能夠描繪出來(lái)。柱狀圖可以工作在實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)中，也可以工作在已存儲(chǔ)下來(lái)的數(shù)據(jù)集中。

誤碼率測(cè)試儀BA1500無(wú)誤碼時(shí)間間隔(Error-free Interval)分析

重復(fù)出現(xiàn)的無(wú)誤碼時(shí)間間隔說(shuō)明了系統(tǒng)性的錯(cuò)誤。找到如上圖所示的毛刺，能夠正確揭示干擾的頻率。

 

無(wú)誤碼時(shí)間間隔分析的是系統(tǒng)中多久出現(xiàn)一次誤碼的時(shí)間規(guī)律。無(wú)誤碼時(shí)間間隔能分析出系統(tǒng)的、而非隨機(jī)性的誤碼行為。同時(shí)，重復(fù)的無(wú)誤碼時(shí)間間隔長(zhǎng)度能指出干擾發(fā)生的頻率，提供了解決誤碼的線索。

無(wú)誤碼時(shí)間間隔信息積累的非?？欤虼瞬恍枰馁M(fèi)大量數(shù)據(jù)和長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試來(lái)定位異常。通過(guò)調(diào)節(jié)直方圖起始點(diǎn)和終止點(diǎn)，可以控制BA1500和BA1600的無(wú)誤碼時(shí)間間隔分析的分析長(zhǎng)度。

誤碼率測(cè)試儀BA1500碼型靈敏度分析(Pattern Sensitivity)

在這個(gè)例子中，碼型長(zhǎng)度為127 位，誤碼幾乎每次都出現(xiàn)在同一個(gè)位置。請(qǐng)注意直方圖下面的NRZ數(shù)據(jù)，光標(biāo)突出顯示了問(wèn)題比特的位置，和直方圖上的光標(biāo)的位置是一致的。

 

碼型靈敏度分析是一個(gè)定位數(shù)據(jù)相關(guān)性錯(cuò)誤的優(yōu)良的工具。這個(gè)直方圖顯示了測(cè)試碼型中每一個(gè)比特出現(xiàn)誤碼的個(gè)數(shù)。測(cè)試碼型可以是內(nèi)建的PRBS，或者用戶自定義的碼型。視圖中的光標(biāo)用來(lái)標(biāo)記出碼型相關(guān)性錯(cuò)誤的位置。

用長(zhǎng)的PRBS碼型進(jìn)行的擴(kuò)展測(cè)試可能會(huì)因?yàn)檎`碼個(gè)數(shù)太少而 失敗。使用碼型靈敏度分析功能，能夠非常清楚的看到是否誤 碼都出現(xiàn)在碼型中同一個(gè)比特位上，還是隨機(jī)散布在不同的碼 型上。碼型靈敏度分析包括在物理層測(cè)試套件選件中。

誤碼率測(cè)試儀BA1500突發(fā)長(zhǎng)度 (Burst Length) 直方圖

這是一個(gè)非常典型Viterbi加密的通信信道中的突發(fā)長(zhǎng)度直方圖。光標(biāo)用于測(cè)量突發(fā)的長(zhǎng)度。
 

比特和突發(fā)錯(cuò)誤通常由不同的物理現(xiàn)象引起。BitAlyzer能測(cè)量的突發(fā)錯(cuò)誤長(zhǎng)達(dá)32000個(gè)比特，并用直方圖來(lái)顯示，允許用戶快速區(qū)別錯(cuò)誤的類(lèi)型。用戶可以定義必須要滿足某一個(gè)的突發(fā)錯(cuò)誤需求。當(dāng)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤糾錯(cuò)編碼系統(tǒng)時(shí)，突發(fā)長(zhǎng)度直方圖是系統(tǒng)正常工作的非常有用的特征。

數(shù)字處理引起的錯(cuò)誤其長(zhǎng)度是重復(fù)出現(xiàn)的，然而通常干擾引起 的錯(cuò)誤長(zhǎng)度會(huì)發(fā)生變化。這個(gè)分析通常和無(wú)誤碼時(shí)間間隔分析 一起使用，從錯(cuò)誤的長(zhǎng)度和頻率更好的分析、理解系統(tǒng)的行為。 突發(fā)長(zhǎng)度直方圖包括在物理層測(cè)試套件選件中。

誤碼率測(cè)試儀BA1500誤碼糾錯(cuò)(Error Correlation)

當(dāng)測(cè)試MUX/DEMUX電路時(shí)，將顯示出和復(fù)用器寬度相關(guān)的串行或者并行的誤碼。

 

找到系統(tǒng)構(gòu)架或者偶發(fā)事件和誤碼率統(tǒng)計(jì)之間的關(guān)系對(duì)鑒別許 多誤碼是非常關(guān)鍵的。誤碼定位分析(Error Location Analysis) 中使用到的技術(shù)用來(lái)找到這些相關(guān)。相關(guān)分析使得用戶設(shè)置一 個(gè)比特塊的長(zhǎng)度(例如數(shù)據(jù)總線的寬度或包的大小)，或者通過(guò) 外部Marker(標(biāo)記)輸入決定一個(gè)時(shí)間間隔(例如硬盤(pán)的區(qū)段標(biāo)識(shí) 符或者引擎的旋轉(zhuǎn)標(biāo)記)，來(lái)觀察這些誤碼是如何和這些數(shù)據(jù)塊 相關(guān)起來(lái)的。

當(dāng)在塊中所有的比特位置有相同的錯(cuò)誤個(gè)數(shù)，說(shuō)明是不相關(guān) 的；然后，如果塊中特定偏移位置上有異常高的錯(cuò)誤率，說(shuō)明 相關(guān)性是存在的。誤碼糾錯(cuò)包括在物理層測(cè)試套件選件中。

誤碼率測(cè)試儀BA1500碼組誤碼分析 (Block Error Analysis)

對(duì)于系統(tǒng)運(yùn)行而言，碼組誤碼統(tǒng)計(jì)通常比單個(gè)誤碼率測(cè)量更重要。碼組的大小可以設(shè)定，直方圖顯示了碼組中出現(xiàn)誤碼出現(xiàn)次數(shù)的分布。
 

許多現(xiàn)在流行的系統(tǒng)需要驗(yàn)證碼組誤碼率(block error rate)。BA1500 和BA1600 允許用戶定義一個(gè)碼組的長(zhǎng)度，用直方圖顯示在碼組中不同的錯(cuò)誤個(gè)數(shù)。

可以使用光標(biāo)非常方便的找出含有指定誤碼個(gè)數(shù)的碼組。*大 的碼組長(zhǎng)度是4千萬(wàn)個(gè)比特，足以覆蓋通常的使用到的碼組長(zhǎng) 度。碼組誤碼分析包括在物理層測(cè)試套件選件中。

誤碼率測(cè)試儀BA1500眼圖

可選的眼圖測(cè)試用以在誤碼測(cè)試之前檢查波形質(zhì)量

 

眼圖是物理層選件中的一部分。集成在誤碼儀上的眼圖分析，可以替代額外的示波器來(lái)進(jìn)行測(cè)試。

自動(dòng)測(cè)量包括上升/ 下降時(shí)間、抖動(dòng)、幅度、噪聲幅度和眼張開(kāi)度比等。用戶可以在眼圖周?chē)鷮?duì)局部的細(xì)節(jié)進(jìn)行放大，理解信號(hào)在誤碼測(cè)試中的行為。眼圖顯示了被測(cè)信號(hào)和BER判決電路二者聯(lián)合的效果。

誤碼率測(cè)試儀BA1500模板測(cè)試

基于內(nèi)建BERT測(cè)試方法，工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和用戶自定義模板測(cè)試速度非常快。

 

眼圖模板測(cè)試是物理層選件中的一部分?？焖傺蹐D模板測(cè)試是保證測(cè)試效率的關(guān)鍵。傳統(tǒng)的示波器工作在一個(gè)固定的有效的采樣率上，積累眼圖需要許多的時(shí)間。通過(guò)基于BER測(cè)試的方法，BitAlyzer可以在幾秒鐘之內(nèi)，以更高的置信度測(cè)試到眼圖的周邊、內(nèi)部、上面和下面。

BitAlyzer 內(nèi)置了各種通信標(biāo)準(zhǔn)的模板，用戶也可以自定義模板。模板也可以在BER 輪廓測(cè)試結(jié)果中自動(dòng)生成，作為指定誤碼率的黃金模板。模板可以自由縮放或者移動(dòng)。

誤碼率測(cè)試儀BA1500Q 因子分析

在13 秒之內(nèi)完成Q 因子測(cè)試。*佳的判決電平由光標(biāo)顯示出來(lái)。注意，并不在眼張開(kāi)度的中心，而是100mV，有較大的標(biāo)準(zhǔn)偏差。

 

Q 因子分析是物理層選件的一部分。Q 因子分析的是幅度域，而抖動(dòng)屬于時(shí)域范疇。Q 因子測(cè)量的是信號(hào)幅度的信號(hào)比，描述了眼高的張開(kāi)度，判決0 和1 的難易程度。

因?yàn)锽itAlyzer 是誤碼分析儀的構(gòu)架，所以具有非常高的采樣率，測(cè)試速度快，但*重要的是，它能夠?qū)咏蹐D中心的跳變位進(jìn)行測(cè)試，而這些跳變位很可能會(huì)導(dǎo)致誤碼。

Q因子分析的結(jié)果顯示*佳的判決電平設(shè)置，以及*好的BER預(yù)測(cè)。

誤碼率測(cè)試儀BA1500BER 輪廓

隨著長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行，會(huì)提高BER 輪廓的測(cè)試精度。這個(gè)例子中采集了1.5 分鐘的信號(hào)。*佳的BER 預(yù)測(cè)和采樣判決點(diǎn)如圖所示。

 

BER輪廓測(cè)試時(shí)物理層選件中的一部分。這個(gè)分析計(jì)算眼圖邊沿的誤碼率，然后根據(jù)加性噪聲的預(yù)測(cè)，將計(jì)算結(jié)果擬合到誤碼率響應(yīng)曲線中。等高線的深度可以通過(guò)推算得到比實(shí)際測(cè)量更低的誤碼率水平。

BER 輪廓用于鑒定系統(tǒng)的裕量。BER 輪廓也能導(dǎo)出生成一個(gè)“黃金”模板，用以和已知的好的樣本進(jìn)行對(duì)比。

誤碼率測(cè)試儀BA1500抖動(dòng)峰值(Jitter Peak)

為了得到更好的結(jié)果，在預(yù)測(cè)更深的BER 時(shí)，大于1e-4 以上的BER結(jié)果不能使用。測(cè)試運(yùn)行時(shí)間越長(zhǎng)，測(cè)試精度越高。

 

抖動(dòng)峰值(Jitter Peak)是物理層選件中的一部分。使用快速BER 掃描技術(shù)，提供自動(dòng)的RJ、DJ 和TJ 測(cè)量。抖動(dòng)測(cè)量的精度是數(shù)據(jù)樣本深度的函數(shù)，沒(méi)有任何一種抖動(dòng)分析方法的樣本深度能能和使用BERT 掃描數(shù)據(jù)的深度向匹敵。更復(fù)雜的BER 測(cè)量意味需要使用更多的數(shù)據(jù)點(diǎn)。

抖動(dòng)分布視圖中的左邊和右邊是分別測(cè)試得到的結(jié)果。中心“綠色”區(qū)域是確定性抖動(dòng)，而兩邊是高斯分布的隨機(jī)抖動(dòng)。

誤碼率測(cè)試儀BA1500FEC 仿真選件

可以在實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)或記錄的數(shù)據(jù)集中定義FEC參數(shù)。許多不同的FEC構(gòu)架可以在同一個(gè)數(shù)據(jù)集上快速的測(cè)試。

 

前向誤碼糾錯(cuò)Forward Error Correction(FEC)仿真功能包括在 物理層測(cè)試套件選件中。因?yàn)椴捎昧?*的誤碼定位技術(shù)，在 測(cè)試中可以確定每一個(gè)誤碼發(fā)生的位置。通過(guò)用假設(shè)誤碼糾錯(cuò) 器，仿真內(nèi)存塊典型的糾錯(cuò)碼，例如Reed-Solomon結(jié)構(gòu)，以 通過(guò)非相關(guān)數(shù)據(jù)通道的誤碼率測(cè)試，確定找到合適的FEC 方 法。用戶可以設(shè)置誤碼糾錯(cuò)的力度，交織的深度以及確保符合 流行的糾錯(cuò)硬件結(jié)構(gòu)。

一維的糾錯(cuò)因子允許用戶設(shè)定FEC碼組的符號(hào)個(gè)數(shù)，以及可能糾錯(cuò)的個(gè)數(shù)。之前可能會(huì)經(jīng)過(guò)二維交織，增強(qiáng)碼組錯(cuò)誤糾錯(cuò)的性能。

二維的糾錯(cuò)也被用來(lái)實(shí)現(xiàn)乘積陣列(Product-Array)因子。在這個(gè)例子中，用戶指定了乘積陣列中的行和列，同時(shí)還制定了兩個(gè)維度的糾錯(cuò)強(qiáng)度。在測(cè)試中錯(cuò)誤一旦被發(fā)現(xiàn)，將被置于仿真表中，根據(jù)交織配置，檢查每一個(gè)糾錯(cuò)因子，防止誤碼數(shù)量超過(guò)糾錯(cuò)強(qiáng)度。

在二維糾錯(cuò)因子中，用戶也可以使用內(nèi)部失敗編碼作為外部糾刪碼。在這種模式下，會(huì)將單一的大型碼組糾錯(cuò)能力翻倍。

在FEC處理過(guò)程中，用戶可以看到每一個(gè)碼字使用的次數(shù)以及失敗的次數(shù)，同時(shí)編碼效率同時(shí)也計(jì)算出來(lái)。

使用BA1600 的FEC 分析工具能使FEC 設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)人為信道出現(xiàn)的實(shí)際誤碼統(tǒng)計(jì)進(jìn)行調(diào)校。如果信道中充滿了碼型敏感或是突發(fā)干擾，這些問(wèn)題將通過(guò)FEC準(zhǔn)確的解決。相比基于白噪聲誤碼的軟件糾錯(cuò)的有著非常明顯的優(yōu)勢(shì)。

誤碼率測(cè)試儀BA15002D 誤碼定位及分析(Error mapping)選件

二維誤碼映射非常方便的顯示出數(shù)小時(shí)或數(shù)秒之內(nèi)的數(shù)據(jù)集合。用戶數(shù)據(jù)塊一列一列的連接起來(lái)以說(shuō)明誤碼相關(guān)性。


突發(fā)和非突發(fā)誤碼用不同的顏色顯示出來(lái)。在這個(gè)圖中，背景的突發(fā)問(wèn)題被其他一些非突發(fā)問(wèn)題所掩蓋。一個(gè)明顯的非突發(fā)問(wèn)題在數(shù)據(jù)包大概存在24500 個(gè)比特。

 

二維誤碼映射是BA1500 和BA1600 的選件。這個(gè)分析能夠根據(jù)測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的誤碼創(chuàng)建一個(gè)二維的圖像。用戶可以根據(jù)通信系統(tǒng)或者實(shí)際的相互影響決定碼組因子(blocking factor)。

誤碼定位及分析是一個(gè)垂直掃描的圖像，當(dāng)誤碼發(fā)生時(shí)，在圖上顯示一個(gè)亮點(diǎn)。從突發(fā)中出現(xiàn)的誤碼將用不同的顏色表示，可以從圖中非常直觀的區(qū)分哪些是突發(fā)錯(cuò)誤，哪些是非突發(fā)錯(cuò)誤。

碼組因子包含了封包的發(fā)小、復(fù)用器的寬度或者交織的深度等，或者決定于外部的標(biāo)記信號(hào)。例如，硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的索引標(biāo)記可以使2D map以硬盤(pán)柱面的讀作為重復(fù)周期。在同一位置出現(xiàn)重復(fù)的誤碼會(huì)使得誤碼定位及分析出現(xiàn)一條明顯的水平的條紋。

基于封包長(zhǎng)度或者復(fù)用器寬度的誤碼定位及分析，如果在特定位置出現(xiàn)重復(fù)誤碼，就能說(shuō)明誤碼和連接到復(fù)用器的并行總線有關(guān)系。這個(gè)可視化的工具允許人們通過(guò)肉眼觀察到誤碼的相關(guān)性，而通常用其他的儀器是根本無(wú)法看到的。

誤碼定位及分析能夠在成千上萬(wàn)的數(shù)據(jù)中迅速的縮放或平移。通過(guò)光標(biāo)限定區(qū)域，在該區(qū)域中發(fā)現(xiàn)的誤碼個(gè)數(shù)將被統(tǒng)計(jì)出來(lái)。誤碼定位及分析成為了發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)誤碼的**工具。

典型的BA1600數(shù)據(jù)和時(shí)鐘數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)率 1.5 Gb/s with 2 V_p-p 幅度設(shè)定。.

 

誤碼率測(cè)試儀BA1500碼型同步

BA1500 和BA1600 支持PRBS 和用戶自定義碼型(*長(zhǎng)8Mb)自動(dòng)同步。不像其他BERT，用戶自定義碼型可以有兩種方法同步，一種非常快速而另一種非常準(zhǔn)確。對(duì)于快速的同步，是通過(guò)學(xué)習(xí)輸入的重復(fù)數(shù)據(jù)碼型來(lái)進(jìn)行同步。通常，對(duì)于循環(huán)回路光纖實(shí)驗(yàn)或者需要快速同步要求的測(cè)試，僅需要經(jīng)歷幾次用戶碼型即可完成同步。對(duì)于準(zhǔn)確的同步，BitAlyzer能夠預(yù)加載用戶碼型，進(jìn)行硬件加速搜尋以完成同步。

誤碼率測(cè)試儀BA1500碼型發(fā)生器和誤碼檢測(cè)器外部控制

BER實(shí)驗(yàn)經(jīng)常有對(duì)誤碼測(cè)量進(jìn)行限定、重新同步**的定時(shí)以及突發(fā)的包數(shù)據(jù)等測(cè)試需求。BitAlyzer有消隱輸入以限定誤碼計(jì)數(shù)，以及外部重新同步控制輸入。用戶可以提供具體應(yīng)用的標(biāo)記信號(hào)作為控制的輸入。

碼型發(fā)生器能夠接受外觸發(fā)以重新開(kāi)始碼型的產(chǎn)生。這樣可以在外部的控制下發(fā)出封包結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)，或者同步多個(gè)碼型發(fā)生器。

誤碼率測(cè)試儀BA1500差分輸入

許多現(xiàn)在廣泛使用的高速通信系統(tǒng)使用了差分方式傳輸信號(hào)，以提高對(duì)共模信號(hào)的抑制。因此，真正的差分接收機(jī)的設(shè)計(jì)對(duì)于誤碼測(cè)試時(shí)非常重要的。同時(shí)，對(duì)于抖動(dòng)測(cè)量、眼圖測(cè)量和模板測(cè)試等，可調(diào)的邏輯閾值電平也是非常重要的。

BA1500和BA1600全新的輸入技術(shù)允許可調(diào)的閾值電平、DC端接電壓、差分輸出以維持**的回?fù)p性能。

誤碼率測(cè)試儀BA1500自動(dòng)延遲校準(zhǔn)

**的可變延遲線設(shè)定對(duì)于抖動(dòng)、模板和眼圖測(cè)試是很關(guān)鍵的。過(guò)去的可變延遲線技術(shù)不是速度太慢，就是不支持長(zhǎng)時(shí)間周期及不同頻率下的校準(zhǔn)。

BitAlyzer包含了全新的延遲線技術(shù)，并且支持自動(dòng)校準(zhǔn)，精度可達(dá)到亞ps級(jí)。因?yàn)樾?zhǔn)速度很快，當(dāng)測(cè)試環(huán)境有改變時(shí)，重新校準(zhǔn)幾乎不會(huì)占用太多時(shí)間。

誤碼率測(cè)試儀BA1500自動(dòng)眼圖模板

眼圖模板測(cè)試通常是工業(yè)規(guī)范要求的測(cè)試項(xiàng)目；然而，這些模板通常是pass/fail一次性測(cè)試。更**的模板將特定器件輸出波形限定在一個(gè)范圍之內(nèi)，監(jiān)視在生產(chǎn)實(shí)踐中系統(tǒng)*微小的變化。

BitAlyzer是**家支持誤碼率等高線分析功能誤碼測(cè)試儀，可以直接將等高線測(cè)試結(jié)果導(dǎo)出為模板。

誤碼率測(cè)試儀BA1500誤碼定位分析 (Error Location Analysis)

BitAlyzer系列誤碼率測(cè)試儀增加了將誤碼研究并定位到具體測(cè)試流中比特位置的功能。

。這項(xiàng)功能在過(guò)去的10 年中，證明對(duì)系統(tǒng)調(diào)試是非常有用的，能隔離誤碼的原因、發(fā)現(xiàn)相關(guān)性、鑒別干擾等。誤碼定位分析的設(shè)置和測(cè)量BER 幾乎一樣。

誤碼率測(cè)試儀BA1500眼圖

對(duì)同一被測(cè)系統(tǒng)，眼圖和誤碼率測(cè)試有著相關(guān)性程度非常高。

一個(gè)像素一個(gè)像素的采樣，快速的掃描判決電平和時(shí)間，形成信號(hào)的眼圖。

誤碼率測(cè)試儀BA1500輸出驅(qū)動(dòng)器

BitAlyzer系列的輸出驅(qū)動(dòng)器來(lái)自于研發(fā)10Gb/s 通信系統(tǒng)的技術(shù)。**的設(shè)計(jì)提供了*低的輸出抖動(dòng)、*快的上升沿，以及允許改變輸出幅度、編制以覆蓋***、*流行的邏輯種類(lèi)。因?yàn)槭请娏髟打?qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)，用戶接口可以設(shè)置成不同的阻抗和端接電壓，以保持經(jīng)校準(zhǔn)的電壓擺幅。